EOT 太赫茲 VCSEL 光纖定制 橫河光譜儀 TDLAS EDFA 觀察鏡 干涉儀 超快激光器 中紅外相機 光束質量分析儀 光譜分析 TDLAS
| 型號 | 貨號 | 操作 | 名稱 | 描述 |
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| 名稱 | 型號貨號 | 描述 | 價格 |
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臺式光譜分析儀 MS9740B 具有動態范圍寬、分辨率高，且波長范圍在 600 nm 到 1750 nm 之間掃描速度快的特點。它支持多模光纖輸入，是制造和評估 850 nm 波段 VCSEL 模塊的理想選擇。
MS9740B 在保持原有功能和性能的同時，將測量處理時間縮短了一半，同時克服了處理速度加快導致測量靈敏度下降的問題。
此外，它還保留了光有源器件(LD-模塊、DF-LD、FP-LD、LED、PMD、WDM、光放大器、WDM 濾波器)的測量菜單屏幕，用于評估器件。它支持關鍵評估項目的一次性測量，例如光學中心波長、電平、光信噪比、頻譜寬度等，并將結果顯示在一個屏幕上。
產品特點：
波段范圍覆蓋600-1750nm
高分辨率
高波長精度
適用于單模和多模光纖
優秀的性價比
產品應用：
有源和無源光器件的光譜特性測試
光收發模塊的發射光譜測試
WDM信號測試
EDFA性能分析測試
調制光和脈沖光測試
技術規格
參數 | 規格指標 | |
MS9740B | MS9740B-009 | |
適用光纖 | SM 光纖(ITU-T G.652)，50μm/125μm GI 光纖 | SM 光纖(ITU-T G.652)，50μm/125μm GI 光纖，62.5μm/125μm GI 光纖 |
光連接器 | 用戶可更換：FC、SC、ST、DIN | |
波長測量范圍 | 600 nm 到 1750 nm | |
波長精度*1 | ±20 pm（1520 nm 到 1620 nm，分辨率：0.03 nm 到 0.2 nm）*2 | ±50 pm（1530 nm 到 1570 nm，分辨率：0.07 nm 到 0.2 nm）*2 |
設定分辨率 | 0.03、0.05、0.07、0.1、0.2、0.5、1.0 nm（0.03 nm，0.05 nm 只在 1550 nm 波段和室溫條件下） | 0.07、0.1、0.2、0.5、1.0 nm |
最大輸入功率 | +23 dBm（光衰減器：開啟） | |
動態范圍*1 | 高動態范圍：70 dB（峰值波長±1 nm），60 dB（峰值波長±0.4 nm），42 dB（峰值波長±0.2 nm） | 高動態范圍：70 dB（峰值波長±1 nm，20° 到 30°C），60 dB（峰值波長±0.5 nm，20° 到 30°C） |
掃描*1 | 掃描時間：≤0.2 秒（跨度：5 nm，分辨率：0.1 nm），≤0.3 秒（跨度：500 nm） | |
尺寸和重量 | 426（寬）x177（高）x350（深）mm（不含突起部分），≤15 千克（無選項） | |
*1：測量前將儀器預熱至少 2 小時，在跨度≥100 nm，視頻帶寬≥10 kHz 的條件下重復掃描。自動光學校準(WI Cal)后進行波形校準，除非另有說明，否則儀器應保持在相同溫度條件下。使用 SM 光纖(ITU-T G.652)或 GI 光纖(50μm/125μm)，回波損耗>40 dB，或使用 GI 光纖(62.5μm/125μm)，回波損耗>38 dB
*2：內置 MS9740B-002，執行 Wl cal (ref)波長校準后，在穩定的室溫條件下
*3：使用 SM 光纖通過外部光源（如單縱模激光器(DFB-LD)）執行 Wl cal (Ext)波長校準后
*4：使用 SM 光纖或 GI 光纖（50μm/125μm 或 62.5μm/125μm）通過外部光源（如 DFB-LD）執行 Wl cal（Ext）波長校準后
營業執照